Tomografía computarizada 3D ZEISS®
Inspección volumétrica 3D no destructiva
Revela lo que permanece oculto bajo la superficie
El uso industrial de los sistemas CT ofrece una ventaja significativa: la digitalización de piezas complejas incluye las geometrías internas al más mínimo nivel de detalle. Al mismo tiempo, la tecnología es muy eficiente, ya que puede medir varias piezas en un solo escaneo. Las soluciones CT incluyen hardware como la serie ZEISS METROTOM y un software fácil de usar para todo el flujo de trabajo como GOM Volume Inspect Pro.
Tecnología
Medir muchas características con precisión y sin esfuerzo
ZEISS METROTOM escanea componentes con rapidez y precisión mediante tomografía computarizada, siendo más eficiente que la medición táctil.
Calibración DAkkS para una mayor confianza
El certificado DAkkS, aceptado globalmente, garantiza mediciones objetivas según la norma VDI/VDE 2630, parte 1.3. La calibración DAkkS para los tomógrafos ZEISS METROTOM 800 y 1500 ahorra costos y genera confianza entre los clientes.
Medición e inspección de componentes enteros
ZEISS METROTOM: tomógrafo industrial que mide y examina componentes de plástico o metal sin dañarlos, mediante tomografía computarizada.
ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)
ZADD en GOM Volume Inspect usa inteligencia artificial para detectar defectos en tomografías de componentes como fundiciones y piezas moldeadas.
ZEISS INSPECT X-Ray: el software todo en uno para datos de TC
Benefíciese de una solución de flujo de trabajo completa con ZEISS METROTOM 1 o ZEISS METROTOM 6 scout. ZEISS INSPECT X-Ray combina el control del dispositivo y la evaluación metrológica de los datos en un solo paquete de software, lo que hace que el software adicional o los pasos intermedios sean redundantes. La cadena de proceso desde el registro de los datos sin procesar, pasando por la inspección hasta la creación de un informe de medición, se simplifica significativamente.
Portafolio
ZEISS METROTOM 1
fácil de usar para medición eficiente de defectos y estructuras internas en una sola toma.
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Fuente de rayos X: 160 kV
Detector de rayos X (píxeles): 2.500 x 2.500
Volumen de medición: 165 x 140 mm
Especificación de medición (MPE SD): 5 μm + L/100
Dimensiones (Ancho x Alto x Profundo): 1750 x 1820 x 870 mm
Peso: 2.100 kg
Software incluido: ZEISS INSPECT X-Ray
Solución de aplicación
ZKW Lighting Systems en Austria utiliza la tomografía computarizada de ZEISS y el software GOM como una poderosa solución general para garantizar la calidad de los sistemas de iluminación innovadores y de alta calidad para la industria automotriz. La medición y las pruebas no destructivas brindan rápidamente hallazgos completos para ZKW. Esto ahorra tiempo de desarrollo y permite procesos de producción estables.